VÉKONYCSISZOLATOK VIZSGÁLATI SZEMPONTJAI, MÓDSZEREI

A VÉKONYCSISZOLATOK VIZSGÁLATI SZEMPONTJAI, MÓDSZEREI

Az egyes műtárgyakat alkotó kőzetekből, habarcsokból, történeti üveg, kerámia stb. vékonycsiszolat készítése, http://archeomusivum.blogspot.com/2018/02/vekonycsiszolat-keszites.html, elemzése a keresztmetszet-csiszolatok vizsgálatán túl további lehetőséget nyújthat a kutatott, vagy restaurálásra váró műtárgyak anyagainak, készítés-technikájának tanulmányozásra, megértésre. Értelemszerűen a mintavétellel járó, tehát roncsolásos vizsgálati módszerek egyike. Az így vizsgálható csoportba tartozhatnak a falképek, mozaikok vakolatai, egyéb falazóhabarcsok, díszítetlen vakolatok, mozaikszemek (kő, üveg, terracotta, mázas kerámia stb. tesserák),  szobrok, díszítőfaragványok, régészeti üveg és kerámia leletek (pl. amforák),  téglák, épületkerámiák stb. 

Az átmenőfényes polarizációs mikroszkópos petrográfiai vizsgálat alkalmas az alábbiak közelítő meghatározására:

VAKOLATOK

1. Kötőanyag -ásványos összetétel -textúra/ szövetszerkezet -töltőanyagokkal való kölcsönhatás

2. Csomók/aggregátumok (például mészcsomók, alul égetett, túlégetett fázisok stb.)

3. Töltőanyag -összetétel - összetétel gyakoriság szerint  -szemcseméret eloszlás -szerkezet (homogén, heterogén, orientációk) -szemcseformák (hosszúkás, szilánkos, lekerekített stb.)

4. Adalékok -növényi, állati szálasanyagok, szén stb. -egyes szerves adalékok jelenléte UV gerjesztésnél láthatóak (fehérjék, olajok, gyanták stb.)

5. Kötőanyag-töltőanyag arány L/A (%)

6. Porozitás -pórusok formája, mérete, eloszlásuk, orientáció

7. Mállási termékek

8. Festett és/vagy egyéb bevonat rétegek   Ha jelen vannak vizsgálható: -a rétegek száma és vastagsága -a rétegek szerkezete, összetétele, pigmentek

KŐZETEK (Mozaik tesserák)

1.Ásványos összetétel -textúra/ szövetszerkezet

2. Kísérőásványok/Akcesszóriák

3. Szennyezőanyagok

4. Mállási termékek, mállás mértéke

5. Porozitás -pórusok formája, mérete, eloszlásuk, orientáció

 

ÜVEGEK  (Mozaik tesserák)

1.Textúra

2. Homályosító/Opalizáló anyagok -eloszlása, mennyisége, megjelenése

3. Színező anyagok -megjelenése, eloszlása, orientáció

4. Szennyezőanyagok

5. Légbuborékok -jelenléte, mennyisége, mérete

6. Bevonatok -vastagsága, jellege

Vékonycsiszolatok polarizációs mikroszkópos vizsgálatának módja, jelölései 

A vékonycsiszolatok polarizációs mikroszkópos vizsgálatához (PLM) alsó megvilágítás szükséges. Ráeső fényben ugyanazon ásványoptikai jelenségek nem észlelhetők. Az átmenő fényben észlelt színek eltérnek a szabad szemmel látottaktól.

A kőzetmikroszkópia, illetve a petrográfiai protokoll is nemzetközileg használja a „nikolok” megnevezést, és a betűjelzést (1N, xN) a polarizátor- analizátor állás helyzetének jelölésére annak ellenére, hogy a nikol-lencséket javarészt egyéb polarizátorokkal helyettesítik a mikroszkópokban. (A polarizáló mészpát prizma William Nicol skót geológus és fizikus nevéhez kötődik, aki 1828-ban először hozott létre így egyenes polarizált fényt). A párhuzamos állást, a geológiai szaknyelvben  hagyományosan egy nikolos vizsgálatként említi - kiiktatva az analizátort -, a keresztezett állás nikolokkal, és polarizátor-analizátor megnevezéssel is általános használatban van. Az előbbire az angol plane polarized light kifejezés rövidítése elterjedt PPL, míg az utóbbit a cross polarized light kifejezés nyomán XPL jelöli.

PPL: szín, habitus, pleokroizmus 

XPL: kettőstörés, kioltási szög, zónás és ikerkristályos ásványoptikai tulajdonságok vizsgálatához alkalmas.

A vékonycsiszolatokról készített felvételek nélkülözhetetlen eleme a méretskála/marker, mely a vizsgált terület léptékeit mutatja az egyes mintákon, értelmezhetősége, összehasonlíthatósága csak így releváns. Például a Zeiss Axio Vision képanalitikai software segítségével egyéb méréseket is elvégezhetünk a felvételeken, illetve további jelölésekkel láthatjuk el azokat.

https://www.zeiss.com/microscopy/int/products/microscope-software/axiovision.html

A markerek alkalmazásakor a méretező program állandó ellenőrzése elengedhetetlen az objektívek váltásakor. Előfordulhat, hogy a mikroszkóp és a szoftver nincsenek összhangban, ilyenkor hibás méretskála kerülhet a felvételre.

(1mm 1000 mikrométer)